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非接触分光光度計色計CRX-66
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非接触分光光度計色計CRX-66

最小注文数:1 Piece/Pieces
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  • 製品の属性
  • 梱包と配送
  • 製品の説明
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製品の属性

モデルCRX-66

ModelCRX-66

Range400-700nm

FunctionCan quickly and accurately measure the color of an object's surface through non-contact methods, without contaminating or damaging the sample; It can also be installed on assembly lines and robotic arms.

CaliberΦ8mm/Φ21mm

Measurement StabilitydE*ab≤0.02

Support APPNo

Support PC SoftwareNo

アプリケーション領域組立ラインとロボットアームにインストールして、製品の色をリアルタイムで監視し、データを送信し、タイムリーな製品品質のフィードバックを提供できます。

サイズ230x160x150mm

Weight2.7kg

梱包と配送
販売単位: Piece/Pieces
パッケージ型式: 確認するために営業担当者に連絡してください

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製品の説明

CHNSPEC CRX-66陽極酸化カラー製品用の非接触またはインラインカラー測定機器

非接触分光光度計は、高精度の色の測定機器であり、サンプルに汚染や損傷なしに、非接触方法を介してオブジェクトの表面の色を迅速かつ正確に測定できます。また、組立ラインとメカニカルアームにインストールして、製品の色をリアルタイムで監視し、データを返し、製品の品質に関するタイムリーなフィードバックを提供することもできます。
製品機能複数のカラーインジケーターを測定できます
*防水および防塵、保護クラスIP66
*強力なPCデータ管理ソフトウェアが標準装備されています
*LED光源を使用して、サービス寿命を長くします
*内部キャリブレーションをサポートして、機器の安定性が高いことを確認します
*二重光パス分光法による色測定方法には、高速、高精度、良好な再現性の利点があります
*サポートRS232、RS485、USB、ネットワークポート、アナログ信号さまざまな通信モード

CHNSPEC CRX-66陽極酸化カラー製品用の非接触またはインラインカラー測定機器
Model CRX-60 CRX-62 CRX-66
Geometry* 45/0
Repeatability** dE*ab≤0.1 dE*ab≤0.05 dE*ab≤0.02
Inter-instrument agreement*** / / dE*ab≤0.25
Display accuracy 0.01
Measuring/Lighting calibers Φ8mm/Φ21mm
Measurement index CIE-Lab,XYZ
Light source condition,
CIE-Lab,CIE-LCh,HunterLab,CIE-Luv,XYZ,Yxy,
RGB,chromatic aberration(ΔE*ab,ΔE*cmc,ΔE*94,ΔE*00),whiteness(ASTM
E313-00,ASTM E313-73,CIE,ISO2470/R457,AATCC,
Hunter,Taube Berger Stensby),yellowness(ASTM D1925,
ASTM E313-00,ASTM E313-73),blackeness(My,dM),
color fastness,color fastness,Tint(ASTM E313-00),
color densityCMYK(A,T,E,M)
Light source condition A,C,D65
A,B,C,D50,D55,D65,D75,F1,F2,F3,F4,F5,F6,F7,F8,
F9,F10,F11,F12,CWF,U30,U35,DLF,NBF,TL83,TL84,
ID50,ID65,LED-B1,LED-B2,LED-B3,LED-B4,LED-B5,
LED-BH1,LED-RGB1,LED-V1, LED-V2
Lighting source Full band balancedLED light source
Field angle 2°,10°
Meet a criterion CIE No.15,GB/T 3978,GB 2893,GB/T 18833,ISO7724-1,ASTM E1164,DIN5033 Teil7
Spectroscopic method Nanobeam splitting device Raster
SenSor Silicon optical array device Dual-row high-precisionCMOS array sensor
Wavelength interval 10nm
Wavelength coverage 400-700nm
Reflectance measurement range 0-200%
Reflectance resolution 0.01%
Measurement and observation mode Visual
Calibration Intelligent automatic calibration
Accuracy guarantee Ensure the first level of measurement
Measuring time Single measurement 110ms Single measurement50ms
Measuring interval 1s
Port USB,485,232,External trigger, analog output, Ethernet
Screen No Full color screen,3.5 inches
Light source lifetime 1 million times in 10 years
Language / Simplified Chinese, English
Non-contact distance 5mm
供給能力と追加情報

包装確認するために営業担当者に連絡してください

についてのサポートContact salesperson to confirm

ポートContact salesperson to confirm

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